產(chǎn)品中心
當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 實(shí)驗(yàn)室分析設(shè)備 >
產(chǎn)品分類CLASSIFICATION
相關(guān)文章ARTICLES
振實(shí)密度是指一定量的粉體裝填在特定容器后,以一定的頻率和幅度進(jìn)行振動(dòng),當(dāng)粉末的體積不再減少時(shí)讀出粉體的體積,然后用粉末的重量除以該體積就得到振實(shí)密度。BT-300系列振實(shí)密度測(cè)試儀是專門測(cè)試粉體振實(shí)密度的一種儀器,具體包含BT-301(單筒)、BT-302(雙筒)和BT-303(三筒)。
BT-100松裝密度儀是用于一般粉體的松裝密度測(cè)試儀。它依據(jù)中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)—粉塵物性試驗(yàn)方法GB/T16913.3-1997-第三部分:堆積密度的測(cè)定,自然堆積法,該方法一般用于除金屬粉末以外的其它粉體的松裝密度測(cè)試。
EQ-TM106膜厚監(jiān)測(cè)儀是采用石英晶體振蕩原理,結(jié)合*的頻率測(cè)量技術(shù),進(jìn)行膜厚的在線監(jiān)測(cè)。主要應(yīng)用于MBE、OLED熱蒸發(fā)、磁控濺射等設(shè)備的薄膜制備過程中,用于對(duì)膜層厚度及鍍膜速率進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。
DX-100 X射線單晶定向儀是光機(jī)電一體化的高科技精密儀器,能快速地測(cè)定天然和人造晶體的晶面,可與各種切割、研磨等加工設(shè)備配套使用,是精密加工制造晶體器件*的儀器。
EQ-RH50-32高通量硬度檢測(cè)儀選用的Equotip Portable Rockwell的測(cè)量原理沿用傳統(tǒng)的洛式硬度靜態(tài)檢測(cè)法,壓頭采用金剛石壓頭。是一款一次測(cè)量樣品數(shù)量可達(dá)32個(gè)的多用硬度儀。
32工位高通量XRF檢測(cè)儀(XRF-S32)是一款高通量XRF(X射線熒光光譜分析)檢測(cè)儀,可一次檢測(cè)多達(dá)32個(gè)樣品,縮短多個(gè)樣品檢測(cè)時(shí)的測(cè)試周期。